Пожертвування 15 вересня 2024 – 1 жовтня 2024 Про збір коштів
1

Young’s double-slit interference experiment with electrons

Рік:
2007
Мова:
english
Файл:
PDF, 925 KB
english, 2007
4

Two and three slit electron interference and diffraction experiments

Рік:
2011
Мова:
english
Файл:
PDF, 222 KB
english, 2011
10

On the assessment of local stress distributions in integrated circuits

Рік:
1993
Мова:
english
Файл:
PDF, 573 KB
english, 1993
13

Four slits interference and diffraction experiments

Рік:
2010
Мова:
english
Файл:
PDF, 873 KB
english, 2010
14

Low temperature dopant activation of BF2implanted silicon

Рік:
1991
Мова:
english
Файл:
PDF, 1.12 MB
english, 1991
16

Structure and stability of nickel/nickel oxide core–shell nanoparticles

Рік:
2011
Мова:
english
Файл:
PDF, 971 KB
english, 2011
17

Nanovoid formation in helium-implanted single-crystal silicon studied by in situ techniques

Рік:
2004
Мова:
english
Файл:
PDF, 1.33 MB
english, 2004
28

Observation of electrostatic fields by electron holography: The case of reverse-biased p-n junctions

Рік:
1987
Мова:
english
Файл:
PDF, 1.77 MB
english, 1987
29

Electron spectroscopic imaging of dopant precipitation and segregation in silicon

Рік:
1991
Мова:
english
Файл:
PDF, 833 KB
english, 1991
31

Thermal wave measurements in ion-implanted silicon

Рік:
1990
Мова:
english
Файл:
PDF, 488 KB
english, 1990
33

Electrical characterization of suspended Pt nanowires grown by EBID with water vapour assistance

Рік:
2008
Мова:
english
Файл:
PDF, 929 KB
english, 2008
41

Investigation of strain distribution in LOCOS structures by dynamical simulation of LACBED patterns

Рік:
1999
Мова:
english
Файл:
PDF, 777 KB
english, 1999
43

Hydrogen and helium bubbles in silicon

Рік:
2000
Мова:
english
Файл:
PDF, 1.17 MB
english, 2000
44

TEM/CBED determination of strain in silicon-based submicrometric electronic devices

Рік:
2000
Мова:
english
Файл:
PDF, 2.42 MB
english, 2000
46

Contrast of small SiX particles in silicon by computed HREM images

Рік:
1988
Мова:
english
Файл:
PDF, 686 KB
english, 1988
49

On the silicon dioxide/polycrystalline silicon interface width measurement

Рік:
1988
Мова:
english
Файл:
PDF, 616 KB
english, 1988